ISO 3497 — 蛍光 X 線法による皮膜厚さの測定

適用範囲 — および対象外の事項

ISO 3497 は、蛍光 X 線（XRF）による金属皮膜厚さの測定方法を規定します。校正、標準試料、スポット径、計数時間、誤差要因です。小物めっき部品の亜鉛厚さを非破壊で確認する実務的な方法です。皮膜がどれだけ厚くあるべきかは規定せず（それは ISO 2081、ISO 4042、ASTM B633、F1941）、断面法（ISO 1463）や電量法（ISO 2177）を全面的に置き換えるものでもありません。形状が難しい場合や結果が争われる場合は、それらが判定方法として残ります。

規格は著作権のある文書です。当社は範囲・意図・実務上の適用を自らの言葉で説明しています。最新版は ISO、ASTM、DIN または各国の規格機関から入手してください。

生産で実際に効いてくる条項

• 1XRF はスポット内の平均値を返します。曲面やねじ面では 1 つのスポットが複数の形状を同時に見るため、値がぶれます。
• 2校正標準は素地・皮膜、そして可能な限り形状も一致させる必要があります。平面標準で校正した値をねじ山頂で読むのは有効な測定ではありません。
• 3小物では日常測定用に平坦な有効面を決めます。頭部座面、軸部、ワッシャー面などです。ねじ上の厚さがどうしても必要なら、それは断面法の話です。
• 4計数時間は不確かさとのトレードオフです。薄い皮膜の短時間測定は、表示から受ける印象より大きなばらつきを含みます。
• 5化成皮膜やシーラーは亜鉛の上にあり、この測定にはほぼ見えません。読み値は金属であって、システム全体ではありません。
• 6結果は方法とともに報告します。方法、スポット位置、校正がなければ「8.4 µm」に意味はありません。

図面・注文書に書くべきこと

• 局部最小値としての厚さ要求と、どの面が有効面か。
• 測定方法 — ISO 3497 の XRF、ISO 1463 の断面法、ISO 2177 の電量法 — と、争点となった場合にどれが優先するか。
• 部品あたりの測定点数と、ロットあたりの部品数。
• 膜厚報告書を納入時に添付するか。

引用が曖昧なときに起きること

• ある試験機関の XRF 値と別の機関の断面値を比較し、その差を不良と呼ぶ。
• ねじ上で測定し、平坦な有効面向けに書かれた要求でロットを不合格にする。
• 読み値に化成皮膜やシーラーが含まれていると考える。
• 引用した規格が局部最小値を要求しているのに平均厚さを指定する。