標準參考
ISO 3497 —— 以 X 射線光譜法量測皮膜厚度
XRF 測厚如何規定、又常在哪裡出錯：曲面與螺紋上的光點、校正標準片、計數時間，以及爭議時的仲裁方法。
| 相關服務 | 檢測實驗室 |
|---|---|
| 試驗與量測 | ISO 3497 |
| 其他寫法 | ISO 3497, ASTM B568 (XRF), ISO 1463 (microsection), ISO 2177 (coulometric) |
| 更新 |
適用範圍 —— 以及不涵蓋的部分
ISO 3497 規定以 X 射線螢光（XRF）量測金屬皮膜厚度的方法：校正、參考標準片、光點尺寸、計數時間與誤差來源。它是檢查小件鍍鋅厚度的實用非破壞方法。它不規定皮膜應該多厚（那由 ISO 2081、ISO 4042、ASTM B633 與 F1941 規定），也不能普遍取代金相斷面（ISO 1463）或庫倫法（ISO 2177）—— 幾何困難或結果有爭議時，後兩者仍是仲裁方法。
標準是受著作權保護的文件。我們以自己的文字說明其範圍、意圖與實務應用；請向 ISO、ASTM、DIN 或貴國標準機構取得現行版本。
生產現場真正會卡住的條款
- 1XRF 報告的是光點範圍內的平均值。在曲面或螺紋上，一個光點同時涵蓋多種幾何，讀值因而漂移。
- 2校正標準片必須與基材、皮膜以及盡可能與幾何形狀相符。用平板校正去讀牙頂，不是有效量測。
- 3小件需要指定平整的重要表面供日常量測：頭部端面、光桿或墊圈面。確實需要知道螺紋上的厚度時，那是金相斷面的問題。
- 4計數時間與不確定度互為代價。薄皮膜上的快速讀值，其離散度比顯示值給人的感覺更大。
- 5鈍化膜與封孔層位於鋅層之上，對此量測幾乎不可見。讀值是金屬，不是整個系統。
- 6結果必須與方法一起報告。沒有方法、光點位置與校正，「8.4 µm」毫無意義。
參考表
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XRF 測厚 —— 實務限制
| 項目 | 參考值 |
|---|---|
| 鋼上鋅層典型可量測範圍 | ≈ 0.1–25 µm |
| 典型光點 / 準直器尺寸 | 0.1–3 mm |
| 典型計數時間 | 10–60 s |
| 爭議時的仲裁方法 | ISO 1463 / ISO 2177 |
僅供參考。實際能做到什麼，取決於儀器、校正與零件幾何。
本頁數值為典型業界參考值，取決於零件、皮膜系統與適用規範，並非保證值。務必依現行版本與客戶圖面確認 —— 本頁不能取代其中任何一份。
圖面或訂單上必須寫明
- 以局部最小值表示的厚度要求，以及哪些是重要表面。
- 量測方法 —— ISO 3497 的 XRF、ISO 1463 的金相斷面，或 ISO 2177 的庫倫法 —— 以及爭議時以哪個為準。
- 每件量測點數與每批件數。
- 是否隨貨出具測厚報告。
標準引用不嚴謹時會出的問題
- 拿一家實驗室的 XRF 數值與另一家的金相斷面比較，並把差異稱為缺陷。
- 在螺紋上量測，卻用依平整重要表面編寫的要求判退批次。
- 以為讀值已經包含鈍化膜與封孔層。
- 在所引標準要求局部最小值時卻規定平均厚度。
常見問題
XRF 量鋅層有多準？+
校正正確時，用於小件平整重要表面的日常管制已足夠；皮膜越薄、表面越彎、計數時間越短，不確定度越大。數值有爭議時，由金相斷面定論。
能量測螺紋內部的厚度嗎？+
用 XRF 無法可靠量測。若螺紋厚度是要求，請安排犧牲件金相斷面，並把這一點寫進規範。
圖面應指定哪一種方法？+
指定作為準繩的那一種。一種都不指定，正是讓 1 µm 的差異變成商務爭議的原因。
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相關標準
本參考中的其他標準
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