ISO 3497 —— 用 X 射线光谱法测量镀层厚度

适用范围 —— 以及不覆盖的内容

ISO 3497 规定用 X 射线荧光（XRF）测量金属镀层厚度的方法：校准、参考标准片、光斑尺寸、计数时间与误差来源。它是检查小件镀锌厚度的实用非破坏方法。它不规定镀层应有多厚（那由 ISO 2081、ISO 4042、ASTM B633 与 F1941 规定），也不能普遍替代金相断面（ISO 1463）或库仑法（ISO 2177）—— 几何困难或结果有争议时，后两者仍是仲裁方法。

标准是受版权保护的文件。我们用自己的语言说明其范围、意图与实际应用；请从 ISO、ASTM、DIN 或贵国标准机构获取现行版本。

生产中真正会卡住的条款

• 1XRF 报告的是光斑范围内的平均值。在曲面或螺纹上，一个光斑同时覆盖多种几何形状，读数因而漂移。
• 2校准标准片必须与基体、镀层以及尽可能与几何形状相匹配。用平板校准去读牙顶，不是有效测量。
• 3小件需要指定平整的重要表面用于日常测量：头部端面、光杆或垫圈面。确需知道螺纹上的厚度时，那是金相断面的问题。
• 4计数时间与不确定度互为代价。薄镀层上的快速读数，其离散度比显示值给人的感觉更大。
• 5钝化膜与封闭层位于锌层之上，对该测量几乎不可见。读数是金属，不是整个体系。
• 6结果必须与方法一起报告。没有方法、光斑位置与校准，「8.4 µm」毫无意义。

图纸或订单上必须写明

• 以局部最小值表示的厚度要求，以及哪些是重要表面。
• 测量方法 —— ISO 3497 的 XRF、ISO 1463 的金相断面，或 ISO 2177 的库仑法 —— 以及争议时以哪个为准。
• 每件测量点数与每批件数。
• 是否随货出具测厚报告。

标准引用不严谨时会出的问题

• 拿一家实验室的 XRF 数值与另一家的金相断面比较，并把差异称为缺陷。
• 在螺纹上测量，却用按平整重要表面编写的要求判退批次。
• 以为读数已经包含钝化膜与封闭层。
• 在所引标准要求局部最小值时却规定平均厚度。